LADP-7 Integriertes experimentelles System für Faraday- und Zeeman-Effekte
Experimente
1. Beobachten Sie den Zeeman-Effekt und verstehen Sie das atomare magnetische Moment und die räumliche Quantisierung
2. Beobachten Sie die Aufspaltung und die Polarisation einer atomaren Quecksilber-Spektrallinie bei 546,1 nm
3. Berechnen des Elektronenladungs-Masse-Verhältnisses basierend auf der Zeeman-Aufspaltungsmenge
4. Beobachten Sie den Zeeman-Effekt bei anderen Quecksilber-Spektrallinien (z. B. 577 nm, 436 nm und 404 nm) mit optionalen Filtern
5. Lernen Sie, wie man ein Fabry-Perot-Etalon justiert und ein CCD-Gerät in der Spektroskopie anwendet
6. Messen Sie die Magnetfeldstärke mit einem Teslameter und bestimmen Sie die Magnetfeldverteilung
7. Beobachten Sie den Faraday-Effekt und messen Sie die Verdet-Konstante unter Verwendung der Lichtextinktionsmethode
Spezifikationen
Artikel | Spezifikationen |
Elektromagnet | B: ~1300 mT;Polabstand: 8 mm;Poldurchmesser: 30 mm: axiale Öffnung: 3 mm |
Stromversorgung | 5 A/30 V (max.) |
Diodenlaser | > 2,5 mW bei 650 nm;linear polarisiert |
Etalon | Durchmesser: 40 mm;L (Luft) = 2 mm;Durchlassbereich: >100 nm;R = 95 %;Ebenheit: < λ/30 |
Teslameter | Bereich: 0-1999 mT;Auflösung: 1 mT |
Bleistift-Quecksilberlampe | Strahlerdurchmesser: 6,5 mm;Leistung: 3 W |
Optischer Interferenzfilter | CWL: 546,1 nm;halber Durchlassbereich: 8 nm;Öffnung: 20 mm |
Direkt ablesbares Mikroskop | Vergrößerung: 20-fach;Bereich: 8 mm;Auflösung: 0,01 mm |
Linsen | kollimierend: Ø 34 mm;Abbildung: Durchmesser 30 mm, f=157 mm |
Liste der Einzelteile
Beschreibung | Menge |
Haupteinheit | 1 |
Diodenlaser mit Netzteil | 1 Satz |
Probe eines magneto-optischen Materials | 1 |
Bleistift Quecksilberlampe | 1 |
Einstellarm für Quecksilberlampe | 1 |
Milli-Teslameter-Sonde | 1 |
Mechanische Schiene | 1 |
Trägerfolie | 6 |
Stromversorgung des Elektromagneten | 1 |
Elektromagnet | 1 |
Kondensorlinse mit Halterung | 1 |
Interferenzfilter bei 546 nm | 1 |
FP-Etalon | 1 |
Polarisator mit Skalenscheibe | 1 |
Viertelwellenplatte mit Halterung | 1 |
Abbildungsobjektiv mit Halterung | 1 |
Direktlesemikroskop | 1 |
Fotodetektor | 1 |
Netzkabel | 3 |
CCD, USB-Schnittstelle und Software | 1 Satz (Option 1) |
Interferenzfilter mit Fassung bei 577 & 435 nm | 1 Satz (Option 2) |