LADP-7 Integriertes Experimentalsystem für Faraday- und Zeeman-Effekte
Experimente
1. Beobachten Sie den Zeeman-Effekt und verstehen Sie das atomare magnetische Moment und die räumliche Quantisierung
2. Beobachten Sie die Aufspaltung und die Polarisation einer Merkur-Atomspektrallinie bei 546,1 nm
3. Berechnen Sie das Elektronenladungs-Masse-Verhältnis basierend auf dem Zeeman-Aufspaltungsbetrag
4. Beobachten Sie den Zeeman-Effekt bei anderen Spektrallinien des Merkur (z. B. 577 nm, 436 nm und 404 nm) mit optionalen Filtern
5. Erfahren Sie, wie Sie einen Fabry-Perot-Etalon einstellen und ein CCD-Gerät in der Spektroskopie einsetzen
6. Messen Sie die magnetische Feldstärke mit einem Teslameter und bestimmen Sie die magnetische Feldverteilung
7. Beobachten Sie den Faraday-Effekt und messen Sie die Verdet-Konstante mithilfe der Lichtextinktionsmethode
Technische Daten
Artikel | Technische Daten |
Elektromagnet | B: ~1400 mT; Polabstand: 8 mm; Poldurchmesser: 30 mm; axiale Öffnung: 3 mm |
Stromversorgung | 5 A/30 V (max.) |
Diodenlaser | > 2,5 mW bei 650 nm; linear polarisiert |
Etalon | Durchmesser: 40 mm; L (Luft) = 2 mm; Durchlassbereich: >100 nm; R = 95 %; Ebenheit: < λ/30 |
Teslameter | Bereich: 0–1999 mT; Auflösung: 1 mT |
Bleistift-Quecksilberlampe | Emitterdurchmesser: 6,5 mm; Leistung: 3 W |
Interferenzoptischer Filter | CWL: 546,1 nm; Halbdurchlassband: 8 nm; Apertur: 20 mm |
Direkt ablesbares Mikroskop | Vergrößerung: 20 X; Reichweite: 8 mm; Auflösung: 0,01 mm |
Objektive | Kollimation: Durchmesser 34 mm; Abbildung: Durchmesser 30 mm, f=157 mm |
Teileliste
Beschreibung | Menge |
Haupteinheit | 1 |
Diodenlaser mit Netzteil | 1 Satz |
Magnetooptische Materialprobe | 1 |
Bleistift-Quecksilberlampe | 1 |
Einstellarm für Quecksilberlampe | 1 |
Milli-Teslameter-Sonde | 1 |
Mechanische Schiene | 1 |
Trägerschlitten | 6 |
Stromversorgung des Elektromagneten | 1 |
Elektromagnet | 1 |
Kondensorlinse mit Halterung | 1 |
Interferenzfilter bei 546 nm | 1 |
FP-Etalon | 1 |
Polarisator mit Skalenscheibe | 1 |
Viertelwellenplatte mit Halterung | 1 |
Abbildungsobjektiv mit Halterung | 1 |
Direkt ablesbares Mikroskop | 1 |
Fotodetektor | 1 |
Netzkabel | 3 |
CCD, USB-Schnittstelle und Software | 1 Satz (Option 1) |
Interferenzfilter mit Fassung bei 577 & 435 nm | 1 Satz (Option 2) |